介質(zhì)損耗測(cè)試儀是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)。通過測(cè)定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

技術(shù)特點(diǎn)
高精度測(cè)量：采用高精度測(cè)量電路和算法，確保tanδ和Cx的測(cè)量精度。
寬測(cè)量范圍：適用于不同電壓等級(jí)和電容量的被試品。
便攜式設(shè)計(jì)：體積小、重量輕，便于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。
操作簡便：大屏幕液晶顯示，中文菜單操作，界面友好。
自動(dòng)化程度高：一鍵式操作，自動(dòng)完成測(cè)量、計(jì)算和結(jié)果顯示。

參考標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法；
GB/T 1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法；
ASTM-D150-介電常數(shù)測(cè)試方法；
GB9622.9-88/SJT 11043-1996電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測(cè)試方法。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀的功能
介質(zhì)損耗因數(shù)（tanδ）測(cè)量：精確測(cè)量絕緣材料的介質(zhì)損耗因數(shù)，評(píng)估絕緣性能。
電容量（Cx）測(cè)量：測(cè)量絕緣材料的電容量，判斷其電容特性。
抗干擾能力強(qiáng)：采用變頻技術(shù)或數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)，有效抑制工頻干擾和其他電磁干擾，確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
多種測(cè)試模式：支持正接法、反接法、自激法等多種測(cè)試模式，適用于不同類型的被試品。
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與分析：內(nèi)置存儲(chǔ)功能，可保存測(cè)試數(shù)據(jù)，支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)出和分析。
安全保護(hù)功能：具備過壓、過流、短路等保護(hù)功能，確保操作安全。